Forskellige typer af Elektronmikroskoper

Elektronmikroskopi udnytter en fokuseret stråle af elektroner til at skabe billeder af en mål eksemplar høj opløsning. Betragtninger lys mikroskoper er begrænset i deres forstørrelse ved bølgelængden af fotoner , er elektronmikroskoper begrænset af den meget mindre bølgelængde af elektroner og således opnå forstørrelse ned til næsten 0,05 nanometer. Der er fire hovedtyper af elektronmikroskoper , som alle kan groft afgrænses ved typen af ​​reflekteret energi, de optager fra prøven . Historie

første elektronmikroskop , en transmissions elektron mikroskop , blev bygget af de tyske ingeniører Max Knoll og Ernst Ruska i 1931. Selv om det oprindelige prototype opnået en lavere forstørrelse end de nuværende lys mikroskoper , Knoll og Ruska held bevist design var muligt, og to år senere overgik lysmikroskop i forstørrelse . Alle efterfølgende gentagelser af elektronmikroskop , er baseret på denne oprindelige prototype.
Transmission Electron Microscope ( TEM)

Transmission elektronmikroskoper producere billeder ved at optage elektronstrålen efter det har passeret gennem en tynd skive af prøven. Prøven placeres på en kobbertråd gitter og underkastes en elektronstråle , genereres normalt ved at køre med høj spænding over et wolframfilament . Elektronstrålen bevæger sig gennem en kondensator linse , strejker prøven og fortsætter gennem objektive og projektive linser før bliver opsamlet på en fosfor -skærm. Som med alle former for elektronmikroskopi, må målet prøven dehydreret og isoleres i et vakuum til forurening vanddamp, som kan forårsage uønsket elektron spredning undgå. Systemer producerer den højeste forstørrelse af alle elektronmikroskoper .
Scanning Electron Microscope ( SEM)

Scanning elektron mikroskoper , sammen med transmissions elektron mikroskoper , der er mest udbredt. I modsætning til de systemer , scanning elektron mikroskoper producere billeder ved at indsamle de sekundære eller uelastisk spredte elektroner , der afvises fra overfladen af en prøve . Den primære elektronstråle rejser gennem flere kondensator linser, scan spoler og et objektiv før slående overfladen af ​​prøven. Elektronstrålen er spredt ved at ramme prøven og en sekundær elektron detektor samler de spredte elektroner. Elektronen data er derefter raster - scannet for at producere overflade billeder med betydelig dybdeskarphed.
Refleksion Electron Microscope ( REM)

Reflection elektronmikroskoper fungerer meget lig SEM'er i form af struktur. REMS dog indsamle de tilbagekastet eller elastisk spredte elektroner efter den primære elektronstråle rammer prøven overflade. Refleksion elektronmikroskoper er mest almindeligt kombineret med spin- polariseret lavenergi elektronmikroskopi til billede magnetiske domæne underskrift skæreflader i computer kredsløb byggeri.
Scanning Transmission Electron Microscope ( STEM )

Scanning transmission elektron mikroskoper , som traditionelle systemer , bestå en elektronstråle gennem en tynd skive af prøven. Stedet for at fokusere elektronstrålen efter at have passeret gennem prøven , en STEM fokuserer strålen på forhånd og konstruerer billede gennem raster scanning. Scanning transmission elektron mikroskoper er velegnede til analytiske teknikker til optegning såsom elektron energitab spektroskopi og ringformede mørkefeltsmikroskopi .
Hoteltilbud